[发明专利]一种基于K均值聚类的双声发射源定位方法有效

专利信息
申请号: 201610397979.X 申请日: 2016-06-07
公开(公告)号: CN105866253B 公开(公告)日: 2018-09-21
发明(设计)人: 潘强;苏聚英;郭鹏程;何田;单颖春 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N29/14 分类号: G01N29/14;G01N29/44
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明一种基于K均值聚类的双声发射源定位方法,其步骤如下:一、在结构体上均匀绘制网格坐标图;二、在交点处安装声发射传感器;三、在结构体表面进行断铅试验,调试设备的安装和耦合;四、选定门限,确定所有传感器的波达时间;五、选取波达时间最早的八个传感器;六、获得该八个传感器坐标;七、基于欧氏距离对前八个传感器进行K均值聚类,将其划分为两组,每组各四个传感器;八、分组进行时差定位,确定两个声发射源。通过以上步骤,实现了结构体中同时存在两个声发射源时的源定位,提高了监测效率和定位精度,解决了处于正常工作状态中的结构体损伤自动监测与双损伤源定位的实际问题。
搜索关键词: 一种 基于 均值 双声 发射 定位 方法
【主权项】:
1.一种基于K均值聚类的双声发射源定位方法,其特征在于:主要包括下列步骤:步骤一:在待监测的结构体上以直角坐标系绘制坐标图,按照矩形形状均匀地绘制网格,网格交点作为声发射传感器的安装位置,并且记录传感器的坐标;步骤二:按照坐标图安装声发射传感器,然后将声发射传感器与声发射检测仪相连;步骤三:接通电源,打开声发射信号采集仪,然后在结构体表面进行断铅试验,通过信号检测调试设备与声发射传感器的安装和耦合,调试正常后则进行数据采集;步骤四:选定门限,确定所有声发射传感器的波达时间;步骤五:获得波达时间后,选取波达时间最早的八个传感器;步骤六:由之前绘制的坐标图获得选取的八个传感器的坐标;步骤七:对前八个传感器,基于欧氏距离进行K均值聚类,依据不同发射源的相对位置将前八个声发射传感器再次划分为两组:A组为离发射源A近的A1、A2、A3、A4四个传感器,B组为离发射源B近的B1、B2、B3、B4四个传感器;步骤八:分别采用A组和B组的四个传感器进行时差定位,即能确定两个声发射源;通过以上步骤,实现了结构体中被两个同时存在的声发射源触发的声发射传感器分离,使得每类传感器都是由同一声发射源信号触发,进而通过时差定位法对声发射源进行有效定位;提高了监测效率和定位精度,减少了人工成本和人为因素对监测结果影响,解决了处于正常工作状态中的结构体损伤自动化在线监测与双损伤源定位的实际问题。
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