[发明专利]适用于水平定位基准非剖切状态下的测量工装及测量方法

摘要

本发明公开了适用于水平定位基准非剖切状态下的测量工装及测量方法，本发明所述测量工装用于对待测工件进行配合安装，并将待测工件的测量基准面进行外延，不需要对待测工件进行剖切，不破坏待测工件原有的结构。本发明所述测量方法不需要对待测工件进行剖切，而是借助于测量工装和投影仪对待测工件进行测量基准面的外延和投影，以得到测量基准线，以测量基准线为基准测量待测工件的工装参数；所述测量方法不会造成待测工件变形，可以对测量基准面进行准确定位，测量误差小，测量时间短，测量成本低，易于操作，避免了现有技术剖切测量法存在的缺陷。

主权项

1.一种适用于水平定位基准非剖切状态下的测量工装，其特征在于，包括外延量块和仿形工装；所述外延量块包括外延基准面，所述外延基准面上设有两个外延通孔，所述外延基准面中间设有第一凹槽，所述两个外延通孔相对于所述第一凹槽对称；所述仿形工装包括支撑底座，所述支撑底座中间设有第二凹槽，所述仿形工装还包括仿形支撑板，所述仿形支撑板为拱形结构，包括第一仿形支撑板和第二仿形支撑板，所述第一仿形支撑板和所述第二仿形支撑板的一端均设置在所述第二凹槽上，另一端均设置在所述支撑底座上，所述第一仿形支撑板和所述第二仿形支撑板上均设有仿形通孔，与所述仿形通孔相邻的内侧均设有第一限位柱，与所述仿形通孔相邻的外侧均设有第二限位柱。