[发明专利]一种变温下测量导体常温电阻率及电阻温度系数的方法

摘要

本发明涉及一种变温下测量导体常温电阻率及电阻温度系数的方法，在标准的电桥试验台上加装两点电子测温探头，同时将微欧计测量信号和电子测温探头信号引入计算机采集卡中，利用计算机同时连续记录电阻值和温度变化。利用室内的空调装置进行室内变温。利用记录的不同温度下的电阻值和用密度法测量的截面面积计算出电阻率。同样根据拟合的曲线可以得到电阻R相对于温度T的变化线性斜率K，电阻率温度变化系数α则可以用斜率K计算出来。本发明采用了通用测量电桥结合电子温度探头、空调变温相结合的方式，解决了普通实验室测量导体电阻率和温度系数的难题。采用本发明，与标准的测量方法相比，测量程序简单、效率高。

主权项

一种变温下测量导体常温电阻率及电阻温度系数的方法，其特征在于：利用室内的空调装置进行室内变温，将待测的导体试品安装在标准的电桥试验台上，在所述的标准的电桥试验台上加装温度传感器，温度传感器的探头与所述导体试品紧密接触，同时将微欧计测量信号和温度传感器的信号引入计算机采集卡中，利用计算机同时连续记录电阻值和温度变化，测出导体试品的截面积S；利用不同温度下测得的数据进行拟合，计算出20℃下导体试品的电阻R，R为左右两个电压夹头间的电阻值，测量两个电压夹头间导体试品的长度，记录为L₁，电阻率ρ与电阻R的关系为：(2)；同样根据拟合的曲线可以得到电阻R相对于温度T的变化线性斜率K:(3)；电阻率温度变化系数α则可以用斜率K计算出来：(4)。