[发明专利]PCB沉孔的检测方法有效
| 申请号： | 201610377805.7 | 申请日： | 2016-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN106052529B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 李桂群;蒋茂胜;虞铭;陈永华 | 申请（专利权）人： | 广州杰赛科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/18 | 分类号： | G01B5/18 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郑彤 |
| 地址： | 510310 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种PCB沉孔的检测方法，包括如下步骤：获取测试板，所述测试板具有相对的第一面和第二面，且具有待检测的沉孔；制作塞规，所述塞规沿轴向依次设有：测量部，所述测量部的形状与所述第一段的形状相配合；以及止规部，所述止规部用于卡止于所述第一段与所述第二段的连接处；测量，将所述塞规的测量部从所述第二段的开口插入所述沉孔中，测量所述测量部伸出所述第一面的长度A1，计算所述第一段的深度L＝A‑A1，即得。本发明为PCB沉孔的检测提供了一种新的方法，采用塞规测量沉孔第一段的深度，每个孔的测量时间仅需10‑20秒，大大缩短了沉孔首件的确认时间，而且采用塞规进行测量无需破坏PCB板，不会增加生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种PCB沉孔的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：获取测试板：所述测试板具有相对的第一面和第二面，且具有待检测的沉孔；所述沉孔为通孔，且沿轴向依次设有同轴的第一段和第二段；所述第一段开口于测试板的第一面，所述第一段的深度为L，且沿深度方向等径设置；所述第二段开口于测试板的第二面，所述第二段的深度为H，且所述第二段的孔径大于所述第一段的孔径；制作塞规：所述塞规沿轴向依次设有：测量部，所述测量部的形状与所述第一段的形状相配合，且所述测量部的长度A大于L；以及止规部，所述止规部用于卡止于所述第一段与所述第二段的连接处；测量：将所述塞规的测量部从所述第二段的开口插入所述沉孔中，所述止规部卡止于所述第一段与所述第二段的连接处，测量所述测量部伸出所述第一面的长度A1，计算所述第一段的深度L＝A‑A1，即得。
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