[发明专利]薄膜结构变形测量与控制实验系统

摘要

本发明提供一种薄膜结构变形测量与控制实验系统，包括薄膜结构试验件、变形测量系统、变形控制系统和监视控制系统；所述薄膜结构试验件包括薄膜阵面以及能够调整薄膜阵面形面的调整机构，所述变形测量系统包括两台摄影测量相机，采用两台摄影测量相机在两个不同角度拍摄薄膜阵面，将拍摄到的图像发送至监视控制系统，监视控制系统通过图像处理获取薄膜阵面的三维形面数据并将该数据传输给变形控制系统，变形控制系统根据三维形面数据计算薄膜阵面所需调整量，并驱动调整机构调整到指定位置，进而实现薄膜阵面的平面度控制。本发明能够模拟真实被控对象，对采用的控制方法进行充分验证，克服了理论仿真验证可信度不高的问题。

主权项

1.一种薄膜结构变形测量与控制实验系统，其特征在于：包括薄膜结构试验件、变形测量系统、变形控制系统和监视控制系统；所述薄膜结构试验件包括边框、张力拉索、薄膜阵面、能够调整薄膜阵面形面的调整机构和若干反光标志点，所述薄膜阵面固定在边框内，所述薄膜阵面的周边设有一圈张力拉索，薄膜阵面周边通过张力拉索提供张力而使整个薄膜阵面张紧，张力拉索通过多个调整结构固定在边框上，若干个反光标志点以阵列的形式布置在薄膜阵面的表面；所述调整机构为10个滚珠丝杆调整机构；所述边框为长方形边框，边框内部张紧的薄膜阵面整体也是长方形；10个滚珠丝杆调整机构分别设置在长方形边框的四边上，其中长方形边框的四个顶点各设置有一个滚珠丝杆调整机构，长方形边框的长边中间均等间距设置有三个滚珠丝杆调整机构, 设置有滚珠丝杆调整机构处的张力拉索连接固定在滚珠丝杆调整机构上；所述变形测量系统包括两台摄影测量相机，采用两台摄影测量相机在两个不同角度拍摄薄膜阵面，将拍摄到的图像发送至监视控制系统，监视控制系统通过图像处理获取薄膜阵面的三维形面数据并将该数据传输给变形控制系统，变形控制系统根据三维形面数据计算薄膜阵面所需调整量，并驱动调整机构调整到指定位置，进而实现薄膜阵面的平面度控制。