[发明专利]一种实现在内存颗粒进行故障校验以增强模组条稳定性的方法在审
申请号: | 201610353156.7 | 申请日: | 2016-05-25 |
公开(公告)号: | CN106021035A | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | 刘胜 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/20 | 分类号: | G06F11/20 |
代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人: | 刘继枝 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种实现在内存颗粒进行故障校验以增强模组条稳定性的方法,具体步骤如下:第一步:在DRAM内部预留额外空间储存更正检查码;第二步:当系统将资料写入 ECC DRAM时,ECC DRAM的内部电路会自动即时将资料运算产生更正检查码,储存在DRAM内部的额外记忆体空间中;第三步:当系统需要读取资料时,ECC DRAM会取出资料与更正检查码,自动比对后输出正确资料;第四步:DRAM实现ECC功能;第五步:进一步实现模组的侦错更正功能,实现双重保障。本发明可以使系统轻松获得ECC的侦错更正功能,提高系统的可靠度与稳定度到伺服器等级,且对功能安全性要求更高的电子系统,有更强大的发展潜力。因而,本发明具有很好的推广使用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 实现 内存 颗粒 进行 故障 校验 增强 模组 稳定性 方法 | ||
【主权项】:
一种实现在内存颗粒进行故障校验以增强模组条稳定性的方法,其特征在于,具体步骤如下:第一步:在动态随机存储记忆体内部预留额外空间储存更正检查码;第二步:当系统将资料写入内建侦错功能的动态随机存储记忆体时,内建侦错功能的动态随机存储记忆体的内部电路会自动即时将资料运算产生更正检查码,储存在动态随机存储记忆体内部的额外记忆体空间中;第三步:当系统需要读取资料时,内建侦错功能的动态随机存储记忆体会取出资料与更正检查码,自动比对后输出正确资料;第四步:动态随机存取记忆体实现侦错更正功能;第五步:进一步实现模组的侦错更正功能,实现双重保障。
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