[发明专利]基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法和系统

摘要

本发明公开了一种基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法与系统。根据微粒浓度不同衰减系数不同的规律，通过测量介质空间分辨的光学衰减系数能够对其内部微结构进行成像。近红外激光光束通过样品浅层区域时以单次散射为主，通过深层区域时以多次散射为主。本发明采用深度分辨的单次散射模型测量样品浅层区域散射系数，应用基于扩展的惠更斯‑菲涅尔原理的多次散射模型结合分段拟合技术测量样品深层区域散射系数。对从OCT系统采集到的干涉光谱信号进行数据处理，可将OCT强度数据相应转换成浅层和深层衰减系数数据，对重建的浅层高空间分辨率散射系数图像和深层高测量精度散射系数图像进行拼接，可实现样品高分辨率高测量精度的衰减系数成像。

主权项

基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的系统，包括宽带光源(1)、光隔离器(2)、宽带光纤耦合器(3)、样品臂(9)、参考臂(14)、探测臂(17)；所述的样品臂(9)包括第一偏振控制器(4)、第一光纤准直镜(5)、扫描振镜(6)和第一聚焦物镜(7)；所述的参考臂(14)包括第二偏振控制器(10)、第二光纤准直镜(11)、第二聚焦物镜(12)、平面反射镜(13)；所述的探测臂(17)包括光谱仪(15)、计算机(16)。