[发明专利]一种三波长二维温度场测量装置及方法

摘要

一种三波长二维温度场测量装置及方法，属于温度场测量装置及方法。测量装置：遮光筒K减弱环境杂散光的影响；主物镜L1，用于光学成像，将待测物体的辐射成像在视场光阑上；透镜L2，产生平行光线；孔径光阑，控制成像光束的光能量；干涉滤光片F1，F2，F3，只允许某个特定波长的光通过；光电传感器阵列D1，D2，D3，用于接收滤光后的辐射，将辐射能转化为电信号；V/F转换装置，将电压信号转换为频率信号，便于采集信息；数据采集分析器，采集由光电传感器经V/F转换后的信息并进行处理，获得各点的相对光谱强度信息，进而采用指数线性发射率模型对各点温度进行反演。优点：实现简单，采集系统成本低，性能稳定，在高温检测领域易于推广应用。

主权项

一种三波长二维温度场测量装置，其特征是：三波长测温装置包括：主物镜L1、透镜L2、孔径光阑、第一干涉滤光片F1、第二干涉滤光片F2、第三干涉滤光片F3、第一光电传感器阵列D1、第二光电传感器阵列D2、第三光电传感器阵列D3、V/F转换装置、数据采集分析器和遮光筒K；主物镜L1、透镜L2、孔径光阑和第一光电传感器D1串联，位于第一光轴上，透镜L2和孔径光阑之间有第一干涉滤光片F1；在第二光电传感器D2与第一干涉滤光片F1之间有第二干涉滤光片F2，在第三光电传感器D3和第二干涉滤光片F2之间有第三干涉滤光片F3；从第一干涉滤光片F1折射的第二光轴通过第二干涉滤光片F2到达第二光电传感器D2上，第二干涉滤光片F2折射的第三光轴通过第三干涉滤光片F3到达第三光电传感器D3；第一光电传感器D1、第二光电传感器D2和第三光电传感器D3分别通过V/F转换装置与数据采集分析器连接，遮光筒K用来减小杂散光的影响；所述主物镜L1用于光学成像，将待测物体的辐射成像在视场光阑上；所述透镜L2，用于产生平行光线；所述孔径光阑，用于控制成像光束的光能量；所述第一干涉滤光片F1，第二干涉滤光片F2，第三干涉滤光片F3，用于通过某个范围内的波长；所述第一光电传感器D1，第二光电传感器D2，第三光电传感器D3，工作于某一波长；所述V/F转换装置，用于将电压信号转换为频率信号，便于采集信息；所述数据采集分析器，用于采集由光电传感器经V/F转换装置发来的信息并进行处理。