[发明专利]PEEK/TPI复合材料中PEEK的分离及检测方法有效
| 申请号： | 201610308201.7 | 申请日： | 2016-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN105823664B | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 沈世亮;赵汶斌;王霞 | 申请（专利权）人： | 上海瀚海检测技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200030 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供一种PEEK/TPI复合材料中PEEK的分离方法，所述方法包括如下步骤：碎化：PEEK/TPI复合材料的碎化，所得碎片的体积平均粒径为80～500微米；预处理：对步骤（1）获得的碎片进行低温等离子表面处理；碱溶液处理：将步骤（2）处理后的碎片放入碱溶液中，在20～30℃温度下超声震荡，并且每超声0.5h，暂停0.5h，总超声时间15～20h，过滤后获得第一剩余固体；溶剂提取：使用索式提取法对第一剩余固体进行抽提，收集未被有机溶剂抽提出来的固体以及剩余的有机溶剂。 | ||
| 搜索关键词： | 复合材料 剩余固体 有机溶剂 超声 碎化 预处理 体积平均粒径 低温等离子 碱溶液处理 索式提取法 超声震荡 溶剂提取 碱溶液 抽提 放入 过滤 检测 | ||
【主权项】：
1.一种PEEK/TPI复合材料中PEEK的分离方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：（1）碎化：PEEK/TPI复合材料的碎化，所得碎片的体积平均粒径为80～500微米；（2）预处理：对步骤（1）获得的碎片进行低温等离子表面处理；（3）碱溶液处理：将步骤（2）处理后的碎片放入碱溶液中，在20～30℃温度下超声震荡，并且每超声0.5h，暂停0.5h，总超声时间15～20h，过滤后获得第一剩余固体；（4）溶剂提取：使用索式提取法对第一剩余固体进行抽提，收集未被有机溶剂抽提出来的固体以及剩余的有机溶剂；所述碱溶液为NaOH和三乙醇胺的混合溶液，或KOH和三乙醇胺的混合溶液。
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