[发明专利]SD-OCT图像的淡水无核珍珠珍珠质层缺陷识别方法有效

专利信息
申请号: 201610305719.5 申请日: 2016-05-10
公开(公告)号: CN106023158B 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 周扬;刘铁兵;王中鹏;陈正伟;施秧;周武杰 申请(专利权)人: 浙江科技学院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310023 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种SD‑OCT图像的淡水无核珍珠珍珠质层缺陷识别方法。对淡水无核珍珠的SD‑OCT图像进行背景和目标的分离处理,获得背景和目标的分界线,根据分界线对图像依次进行拉平和散斑噪声去除的处理,对图像进行裁剪和压缩,计算像素点的纵向梯度,并提取获得缺陷层上下边界,计算纵向梯度均值,再通过上边界线阈值和下边界线阈值判断获得确定缺陷子层,从而获得缺陷的结果。本发明方法实现了淡水珍珠质层中缺陷子层的检测,并完成缺陷子层的自动标识和判别,对不同形态的缺陷子层具有较强的适应性,提高了检测效率,配合成像等外观检测方法,为淡水珍珠在线检测奠定技术基础。
搜索关键词: sd oct 图像 淡水 无核 珍珠 缺陷 识别 方法
【主权项】:
1.一种SD‑OCT图像的淡水无核珍珠珍珠质层缺陷识别方法,其特征在于包括以下步骤:1)采集淡水无核珍珠的SD‑OCT图像;2)对SD‑OCT图像进行背景和目标的分离处理,获得背景和目标的分界线;3)根据分界线对图像依次进行拉平和散斑噪声去除的处理;4)对图像进行裁剪和压缩;5)计算像素点的纵向梯度,并提取获得缺陷层上下边界;6)计算纵向梯度均值,再通过上边界线阈值和下边界线阈值判断获得缺陷的结果:分别计算上边界上和下边界上所有像素的纵向梯度均值;若上边界纵向梯度均值大于上边界线阈值,则认为边界下部产生缺陷;若下边界纵向梯度均值小于下边界线阈值,则认为边界上部产生缺陷;若边界上部和下部均产生缺陷,则认为淡水无核珍珠的珍珠质层存在缺陷,否则不存在;所述步骤5)中的方法为:5‑1)定义相连通的两个像素点之间存在关联权值,每个像素点与其相邻的各个像素点之间相连通;5‑2)计算图像中每个像素点的纵向梯度并进行归一化处理,采用以下公式计算所有相连通的两个像素点之间的关联权值Weightab:Weightab=2.01‑ga‑gb其中,ga和gb分别为两个相连通的像素点a和b的纵向梯度;5‑3)在图像的最左侧和最右侧各增加一列像素点,新增加的最左列的所有像素点均相连通,新增加的最右列的所有像素点均相连通,最左列像素和最右列像素中每两个相连通的像素点的关联权值均为10‑5;5‑4)以最左列像素点的中间像素点为边界搜索的初始点,以最右列像素点的中间像素点为边界搜索的终点,结合图像中各像素点的相连通情况及其关联权值采用Dijkstra单源最短路径搜索算法,获得缺陷层的边界。
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