[发明专利]基于延时自外差法测量852nm半导体激光器超窄线宽测试系统在审
| 申请号： | 201610302697.7 | 申请日： | 2016-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN105758626A | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 关宝璐;杨嘉炜;潘冠中;刘振扬;李鹏涛 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 张慧 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 基于延时自外差法测量852nm半导体激光器超窄线宽测试系统，属于半导体光电子技术领域。包括：半导体激光器、第一3dB耦合器、延时多模光纤、声光移频器、第二3dB耦合器、光电探测器和频谱仪组成；半导体激光器输出端口为FC/PC的光纤接口，通过法兰盘将半导体激光器与第一3dB耦合器的输入端口相连接；第一3dB耦合器输出为两路，一路通过法兰盘连接延时多模光纤，另一路通过法兰盘连接声光移频器；第二3dB耦合器把延时多模光纤的输出与声光移频器的输出合为一路；第二3dB耦合器的输出端连接光电探测器，光电探测器的输出端使用BNC射频线与频谱仪相连接。可测量852nm半导体激光器的线宽，保证测试系统的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 延时 外差 测量 852 nm 半导体激光器 超窄线宽 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种852nm窄线宽半导体激光器线宽测试系统，其特征在于，主要包括：半导体激光器(1)、第一3dB耦合器(2)、多模延时光纤(3)、声光移频器(4)、第二3dB耦合器(5)、光电探测器(6)和频谱仪(7)组成；半导体激光器输出端口为FC/PC的光纤接口，通过法兰盘将半导体激光器与第一3dB耦合器的输入端口相连接；第一3dB耦合器输出为两路，一路通过法兰盘连接延时多模光纤，另一路通过法兰盘连接声光移频器；第二3dB耦合器把多模延时光纤的输出与声光移频器的输出合为一路；第二3dB耦合器的输出端连接光电探测器，光电探测器的输出端使用BNC射频线与频谱仪相连接。
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