[发明专利]免疫层析检测系统和检测方法

摘要

一种免疫层析检测系统，包括检测光源，标准光源，光电探测器，检测试纸；所述检测试纸设置检测区域，检测区域设置检测线，当样品中存在目标检测物时，其中的纳米金标记物颗粒发生免疫层析反应聚集在检测线上；检测光源和标准光源能够分别向检测试纸发射检测光以及反射光；光电探测器能够接收所述检测区域的反射光；免疫层析检测试纸设置校准区域，校准区域设置校准色块，校准色块位于所述纳米金标记物颗粒的显色范围，通过标准光和检测光对于校准色块照射的检测对于检测结果进行修正并且确定是否需要进一步的修正。

主权项

一种用于确定样品中目标检测物的浓度的免疫层析检测系统的检测方法，所述免疫层析检测系统包括：检测光源，光电探测器，免疫层析检测试纸；所述免疫层析检测试纸设置检测区域，所述检测区域设置检测线，当样品中存在目标检测物时，其中的纳米金标记物颗粒发生免疫层析反应聚集在检测线上；所述检测光源能够向所述检测区域发射检测光；所述光电探测器能够接收所述检测区域的反射光；其特征在于：免疫层析检测系统还包括标准光源，其能够发射标准光；所述标准光源为能够提供稳定出射光强度的光源，其设置为远低于检测光源的校正和更换周期；存储模块，其存储比色卡色度与光电探测器信号强度相对应的最佳响应曲线；所述免疫层析检测试纸设置校准区域，所述校准区域设置校准色块，所述校准色块位于所述纳米金标记物颗粒的显色范围；所述校准色块包括颜色相同的第一色块、第二色块以及颜色不同的第三色块、第四色块；所述第一色块表面覆盖特定透光率的透光层，所述第二色块表面不覆盖透光层；所述第三色块颜色靠近纳米金标记物颗粒的显色范围的下限，所述第四色块颜色靠近纳米金标记物颗粒的显色范围的上限；通过标准光和检测光对于校准色块照射的检测对于检测结果进行修正并且确定是否需要进一步的修正；其中，分别通过检测光源和标准光源照射所述第一色块以及第二色块，根据光电探测器的响应确定检测光源的修正；所述修正包括如下步骤：（1）根据计算修正系数k和b，其中L标1为使用标准光源照射第一色块时光电探测器检测的信号强度，L标2为使用标准光源照射第二色块时光电探测器检测的信号强度；L检1为使用检测光源照射第一色块时光电探测器检测的信号强度，L检2为使用检测光源照射第二色块时光电探测器检测的信号强度；（2）在检测光源照射检测区域时，检测光源对应的光电探测器检测的信号强度修正为L修＝kL测+b；根据检测光源的修正的结果确定是否需要进行光电探测器响应系数的修正：通过最佳响应曲线，计算第三色块33以及第四色块34的期待信号强度，L期3＝k1X1+b1和L期4＝k1X2+b1，其中k1和b1为最佳响应曲线的斜率和截距，X1和X2分别为第三色块33和第四色块34的色阶梯度数值；通过检测光源20测定第三色块33以及第四色块34的信号强度L测3和L测4，分别计算修正后的信号强度L修3＝kL测3+b和L修4＝kL测4+b，如果L期3－L修3和L期4－L修4中任意一个的绝对值大于特定阈值，进行进一步的光电探测器响应系数的修正；（3）光电探测器响应系数的修正值通过如下步骤计算:(a)使用检测光源作为光源，光电探测器依次获取比色卡各个梯度区域的数据信息；（b）进行检测光源的修正，得到各个梯度区域修正后的信号强度L修i；（c）通过最佳响应曲线，分别计算各个梯度区域的期待信号强度L期i；（d）计算各个梯度区域的响应系数的修正值εi＝L期i/L修i；（4）根据步骤（2）的结果判定是否需要光电探测器响应系数的修正，如果需要修正，则对于L修的光电探测器响应系数的修正步骤为：对于L修的光电探测器响应系数的修正步骤为：（a1）获取其色度对应梯度区域端点的响应系数的修正值ε1和ε2；（a2）通过对于ε1和ε2进行插值计算出该色度的修正值ε修；（a3）计算该信号强度L修的最终修正Lf＝L修×ε修。