[发明专利]一种变掺杂结终端制备方法有效

专利信息
申请号: 201610300050.0 申请日: 2016-05-09
公开(公告)号: CN105914133B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 黄润华;柏松;陶永洪;汪玲 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/266
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210016 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种变掺杂结终端制备方法,通过在介质层表面加工出蚀刻阻挡层,形成了阶梯状介质形貌,再通过离子注入形成了渐变结构的结终端。本发明通过严格控制两层介质的蚀刻速率比,实现了台阶高度的精准控制,避免了由蚀刻速率漂移引起的注入介质膜厚变化。所实现的结终端各区域注入剂量可以得到精确的控制,并减少了器件加工中离子注入的次数。
搜索关键词: 一种 掺杂 终端 制备 方法
【主权项】:
1.一种变掺杂结终端制备方法,其特征在于:包括以下的步骤:S1:在碳化硅外延层(1)上生长第一介质层(2);S2:在第一介质层(2)上依次形成了N层单台阶状的介质层,N为正整数;其中第1层单台阶状的介质层通过以下步骤得到:在第一介质层(2)上生长第二介质层(3),在第二介质层(3)表面加工出第一蚀刻阻挡层(4),并通过蚀刻的方法去除部分第一蚀刻阻挡层(4),未被去除的第一蚀刻阻挡层(4)仍然覆盖着第二介质层(3),然后通过蚀刻的方法去除第二介质层(3)中未被第一蚀刻阻挡层(4)覆盖的区域,保留第二介质层(3)中被第一蚀刻阻挡层(4)覆盖的区域,最后去除第一蚀刻阻挡层(4),形成第1层单台阶状的介质层,从而形成第1离子注入区;其中第i层单台阶状的介质层通过以下步骤得到,1
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