[发明专利]一种变掺杂结终端制备方法有效
申请号: | 201610300050.0 | 申请日: | 2016-05-09 |
公开(公告)号: | CN105914133B | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 黄润华;柏松;陶永洪;汪玲 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/266 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210016 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种变掺杂结终端制备方法,通过在介质层表面加工出蚀刻阻挡层,形成了阶梯状介质形貌,再通过离子注入形成了渐变结构的结终端。本发明通过严格控制两层介质的蚀刻速率比,实现了台阶高度的精准控制,避免了由蚀刻速率漂移引起的注入介质膜厚变化。所实现的结终端各区域注入剂量可以得到精确的控制,并减少了器件加工中离子注入的次数。 | ||
搜索关键词: | 一种 掺杂 终端 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种变掺杂结终端制备方法,其特征在于:包括以下的步骤:S1:在碳化硅外延层(1)上生长第一介质层(2);S2:在第一介质层(2)上依次形成了N层单台阶状的介质层,N为正整数;其中第1层单台阶状的介质层通过以下步骤得到:在第一介质层(2)上生长第二介质层(3),在第二介质层(3)表面加工出第一蚀刻阻挡层(4),并通过蚀刻的方法去除部分第一蚀刻阻挡层(4),未被去除的第一蚀刻阻挡层(4)仍然覆盖着第二介质层(3),然后通过蚀刻的方法去除第二介质层(3)中未被第一蚀刻阻挡层(4)覆盖的区域,保留第二介质层(3)中被第一蚀刻阻挡层(4)覆盖的区域,最后去除第一蚀刻阻挡层(4),形成第1层单台阶状的介质层,从而形成第1离子注入区;其中第i层单台阶状的介质层通过以下步骤得到,1
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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