[发明专利]一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法有效
申请号: | 201610296613.3 | 申请日: | 2016-05-08 |
公开(公告)号: | CN105784644B | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
发明(设计)人: | 廖晓玲;徐紫宸;李波;肖文谦 | 申请(专利权)人: | 重庆科技学院 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 401331 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明公开了一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法,所述使用方法包括,开启主机箱体和处理显示器电源;开启风扇、加热室加热装置、空气净化装置,加装检测芯片,调整全内反射光源及接收器和倒置荧光显微镜,检测、关机。本发明的优点是提供了既能够用全内反射检测方法,又提供了倒置荧光显微镜检测方法,实现一机多用,满足一机联测不同因子的要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 恒温 反射 微流控 芯片 检测 一体机 使用方法 | ||
【主权项】:
1.一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法,所述一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机,由主机箱体(1)、和处理显示器(18)组成,主机箱体(1)竖直朝前的一面有开口,箱体里面通过上下箱室隔板(5)将箱体内部分为下层箱室(2)和上层箱室(13)两层,并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门(17)和上层透明门(14);下层箱室(2)安装有倒置荧光显微镜(3),倒置荧光显微镜(3)镜头上方对着观察窗(4);观察窗(4)上方的上下箱室隔板(5)的上面,即在上层箱室(13)内的上下箱室隔板(5)一侧安装有样品台(6);样品台(6)上固定放置检测芯片(15);在样品台(6)正上方有全内反射光源及接收器(10);在上层箱室(13)的里侧箱体壁上安装有竖轨(12),在竖轨(12)上还水平安装有横轨(9),横轨(9)与竖轨(12)十字交叉相互垂直;全内反射光源及接收器(10)通过竖轨(12)或横轨(9)固定;处理显示器(18)与主机箱体(1)内的倒置荧光显微镜(3)和全内反射光源及接收器(10)线路相连;其特征在于:在上层箱室(13)的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器(7)和风扇(8);上层箱室(13)的里侧箱体壁有两层保温隔板(19),在两层保温隔板(19)之间是加热室(20),加热室(20)内安装有控制温度的电加热装置;在主机箱体(1)顶部加工安装有空气净化装置(11)与上层箱室(13)相通;所述使用方法如下:第一步,开启主机箱体(1)和处理显示器(18)电源;保持下层透明门(17)和上层透明门(14)都密闭关闭,开启风扇(8)、加热室(20)加热装置、空气净化装置(11),运转15min‑30min;第二步,观察处理显示器(18)的温度和湿度到稳定要求后,打开上层透明门(14),将检测芯片(15)放在样品台(6)上,连接检测芯片(15)与各个导管的接口;依据检测芯片(15)上的检测区域位置,调整移动样品台(6)将检测区域位置调整到观察窗(4),固定;第三步,开启全内反射光源及接收器(10)电源,将全内反射光源及接收器(10)在竖轨(12)上调整高度,使其在检测芯片(15)上发生全反射,固定全内反射光源及接收器(10),然后将横轨(9)调整到与全内反射光源及接收器(10)同一高度固定,在横轨(9)上,再左右调整全内反射光源及接收器(10),使其全反射在检测芯片(15)上的检测区域位置,最后固定全内反射光源及接收器(10),进行全内反射试样检测,处理显示器(18)控制测试参数和采集数据;第四步,检测芯片(15)上有多个检测区域位置时,重复第三步操作;第五步;关闭全内反射光源及接收器(10)电源,打开倒置荧光显微镜(3)电源,通过处理显示器(18)调整焦距,移动位置,使镜头对准检测芯片(15)上的检测区域,进行常规荧光检测,处理显示器(18)控制荧光参数和采集数据;如不需要常规荧光检测,直接从第三步或第四步到第六步;第六步;先关闭全内反射光源及接收器(10)电源和倒置荧光显微镜(3)电源,取走检测芯片(15),依次关闭风扇(8)、加热室(20)加热装置、空气净化装置(11)的电源,取走加湿器7中的水,最后关闭主机箱体(1)和处理显示器(18)电源。
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