[发明专利]一种四元系LED芯片的生产工艺有效
申请号: | 201610291800.2 | 申请日: | 2016-05-05 |
公开(公告)号: | CN105789390B | 公开(公告)日: | 2018-08-07 |
发明(设计)人: | 肖和平;陈亮;马祥柱;陈宝;杨凯 | 申请(专利权)人: | 扬州乾照光电有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/30 |
代理公司: | 扬州市锦江专利事务所 32106 | 代理人: | 江平 |
地址: | 225009 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种四元系LED芯片的生产工艺,属于LED芯片制造技术领域。在负电极的表面粘附蓝膜,对芯片半制品进行各元胞等间距半分割后,将芯片半制品从蓝膜上分离出来后,对各元胞进行光电参数测试,然后再在负电极的表面粘附蓝膜,进行各元胞等间距全分割,经扩张处理、检测晶粒正电极外观后,翻转具有蓝膜的芯片半制品,使半制品的负电极向上,对负电极外观进行检测,再次翻转,正电极向上进行外观复检。本发明无需进行翻转可进行扩张,节省蓝膜用量,利于降低成本;在整个制作工艺过程中,人工引入较少,节约了人力资本,明显地降低因人工导致的误挑、少挑、污染等问题;从而大大提高成品的优良率。 | ||
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【主权项】:
1.一种四元系LED芯片的生产工艺,先在GaAs 基板一侧面外延生长形成具有发光层的外延片,然后在外延片的两侧分别制作正电极和负电极,取得具有多元胞的芯片半制品;其特征在于还包括以下步骤:1)把所述芯片半制品正电极向上,在负电极的表面粘附蓝膜,然后从上至下对芯片半制品进行各元胞等间距半分割;2)将芯片半制品从蓝膜上分离出来后,对各元胞进行光电参数测试;3)将芯片半制品正电极向上,再在负电极的表面粘附蓝膜,然后从上至下对芯片半制品进行各元胞等间距全分割,直至分割到蓝膜上方为止;4)将具有蓝膜的芯片半制品进行扩张处理;5)将具有蓝膜的芯片半制品进行晶粒外观检测机扫描辨识,确认每颗晶粒的坐标,并设定刮边排数,采用晶粒外观检测设备进行自动刮边、检测晶粒正电极外观;6)翻转具有蓝膜的芯片半制品,使半制品的负电极向上,对负电极外观进行检测;7)再次翻转,使正电极向上人工进行外观复检。
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