[发明专利]复合膜的缺陷判别方法有效
| 申请号： | 201610290575.0 | 申请日： | 2016-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN106248689B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 洪升均;严东桓;全柱炳 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京市中伦律师事务所 11410 | 代理人： | 石宝忠 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供复合膜的缺陷判别方法。本发明涉及复合膜的缺陷判别方法，其通过包含：(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选缺陷候补群区域的阶段；(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段，从而在制造工序中将不需要检查的区域去除，大幅地提高缺陷判别的效率和缺陷判别的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 复合 缺陷 判别 方法 | ||
【主权项】：
复合膜的缺陷判别方法，其包含：(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选缺陷候补群区域的阶段；(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段。
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