[发明专利]挥击分析装置、挥击分析方法、挥击分析系统在审
| 申请号： | 201610290168.X | 申请日： | 2016-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN106110595A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 佐藤雅文 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | A63B24/00 | 分类号： | A63B24/00;A63B69/36;A63B71/06;G06K9/00;G09B19/00 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 苏萌萌;范文萍 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种挥击分析装置、挥击分析方法、挥击分析系统。挥击分析装置(信息终端)具备：运算处理电路，其利用惯性传感器的输出，而对挥击中的运动器具的击打面的角度进行计算；图像处理电路，其生成用于在由第一标度构成的第一坐标系上显示所述角度的第一图像数据，并生成用于在由第二标度构成的第二坐标系上显示所述角度的第二图像数据，所述第二标度与所述第一标度相比间隔较宽。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种挥击分析装置，其特征在于，具备：计算部，其利用惯性传感器的输出，而对挥击中的运动器具的击打面的角度信息进行计算；第一图像生成部，其生成用于在由第一标度构成的第一坐标系上显示所述角度信息的第一图像数据；第二图像生成部，其生成用于在由第二标度构成的第二坐标系上显示所述角度信息的第二图像数据，所述第二标度与所述第一标度相比间隔较宽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社，未经精工爱普生株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610290168.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：超低钴的铁-钴磁性合金
- 下一篇：断路器传感器
