[发明专利]一种磁粉芯饱和磁感应强度的检测方法有效

专利信息
申请号: 201610288267.4 申请日: 2016-05-04
公开(公告)号: CN105974336B 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 吴琼;王子生;张朋越;葛洪良 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 代理人: 杜立
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种磁粉芯饱和磁感应强度的检测方法,检测步骤包括:(1)用数显卡尺测量待检磁粉芯磁环试样的内径、外径;(2)用镍标样对B测量线圈进行校准;(3)把空的B测量线圈和磁场探测器,置于杂散场小于0.1kA/m的空间,调整测量装置零点漂移;(4)将待检磁粉芯磁环试样放置在电磁铁两极头间,套上B测量线圈,使样品处于B测量线圈中心位置,并用极头将其夹紧;(5)接通磁化电源,单调改变磁化电流,使磁场发生连续变化,用X‑Y记录仪记录样品的磁化曲线或磁滞回线,待磁场增加,样品磁极化强度J保持不变时,样品即饱和磁化,此时记录样品的磁感应强度即饱和磁感应强度Bs。
搜索关键词: 一种 磁粉芯 饱和 感应 强度 检测 方法
【主权项】:
1.一种磁粉芯饱和磁感应强度的检测方法,其特征在于:采用电磁铁提供磁粉芯磁化场,以实现磁粉芯磁环样品饱和磁感应强度的检测;采用的检测装置包括:包括:电磁铁、磁场探测器、B测量线圈、电子积分器和X‑Y记录仪;电磁铁包括磁化电源、磁化绕组、磁轭和极头;检测步骤如下:(1)用数显卡尺测量待检磁粉芯磁环试样的内径和外径;(2)用镍标样对B测量线圈进行校准;(3)把空的B测量线圈和磁场探测器,置于杂散场小于0.1kA/m的空间,调整测量装置零点漂移;(4)将待检磁粉芯磁环试样放置在电磁铁两极头间,套上B测量线圈,使样品处于B测量线圈中心位置,并用极头将其夹紧;(5)接通磁化电源,单调改变磁化电流,使磁场发生连续变化,用X‑Y记录仪记录样品的磁化曲线或磁滞回线,待磁场增加,样品磁极化强度J保持不变时,样品即饱和磁化,此时记录样品的磁感应强度即饱和磁感应强度Bs。
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