[发明专利]用于确定测量系统中测量定位的位置的方法有效
| 申请号： | 201610258572.9 | 申请日： | 2016-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN106066402B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 沃尔夫冈·施泰内巴赫 | 申请（专利权）人： | 西门子医学诊断产品有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N35/02 | 分类号： | G01N35/02 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定自动分析装置的测量系统中多个测量定位的位置的方法，以及相应的自动分析装置，该自动分析装置具有设计为锁相环路的集成电路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 测量 系统 定位 位置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定测量系统中的多个测量定位的位置的方法，所述测量系统包括：a)用于容纳反应容器的圆形装置，所述圆形装置具有布置在圆形轨迹上的多个测量定位以及物理参考定位，以及b)测量装置，其中，用于容纳反应容器的装置能够关于该装置的垂直轴线旋转或者所述测量装置能够关于所述用于容纳反应容器的装置的垂直轴线在水平圆形轨迹上移动，所述方法包括以下步骤：i.在所有情况下，关于所述用于容纳反应容器的装置的垂直轴线旋转该用于容纳反应容器的装置或者以恒定转速关于用于容纳反应容器的装置的垂直轴线在水平圆形轨迹上移动所述测量装置；ii.在每次旋转期间在所述物理参考定位处测量物理参考信号；iii.通过锁相环路确定虚拟参考定位并且iv.基于所述虚拟参考定位计算所述测量定位的位置。
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