[发明专利]元件漏检方法和系统

摘要

本发明涉及一种元件漏检方法和系统，获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区域的待测图像，再获取制版图像的HSV图像待测图像的HSV图像，根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数以及待测图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第二像素点的个数，并根据第一像素点的个数和第二像素点的个数的比值与第一预设值的大小来确定待测元件是否漏件。此方案中将图像转换到HSV颜色空间，利用HSV图像中的色调值和饱和度值以及容差值来计算相匹配颜色的像素点数，舍弃了明度值，减少了光照变化对相匹配颜色的像素的影响，提高了元件漏检方法的准确度。

主权项

一种元件漏检方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测元件所在区域的制版图像和所述待测元件所在区域的待测图像；获取所述制版图像的HSV图像，获取所述待测图像的HSV图像；根据所述待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所述制版图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，所述主体颜色为所述待测元件的各颜色中占比最大的一种颜色；根据所述主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所述待测图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第二像素点的个数；获取所述第一像素点的个数和所述第二像素点的个数的比值，将所述比值与第一预设值相比较，若所述比值小于所述第一预设值，则判定所述待测元件在所述待测图像中漏件。