[发明专利]两步相移同轴全息技术实现90°相移及校准系统和方法

摘要

本发明涉及一种两步相移同轴全息技术实现90°相移及校准系统和方法。该方法为：搭建马赫‑泽德双光束平面准同轴全息光路系统，在物光路和参考光路各加入一块标准玻璃载玻片；在物光路中加入一汇聚透镜，与参考光路的平面波汇合形成球面干涉条纹；球面干涉条纹截面呈Sinc函数分布，微调旋转平台，使得Sinc函树分布曲线的中心处于最大值；继续微调旋转平台，使得抽样函树分布曲线的中心处于最小；移去物光路中的汇聚透镜，放入被测样本，根据旋转平台的两次刻度值标记，即可采集具有90°相移的两幅全息图。本发明方法所涉及的记录装置光学元件少、结构简单，操作简便，调节精度高，成本便宜，可实现两步相移同轴全息技术中90°相移及校准。

主权项

1.一种两步相移同轴全息技术实现90°相移及校准系统，包括一个激光器(1)、一个扩束准直器(2)、第一和第二两个分光棱镜(3、9)、第一和第二两个反射镜(4、5)、第一和第二两个载玻片(7、8)、一个透镜(6)、一个CCD的图像接收系统(10)和一个计算机(11)，其特征在于构成的光路是：所述激光器(1)发出的光束经扩束准直器(2)和第一分光棱镜(3)后分为两路：一路经第一反射镜(4)和第一载玻片(7)到达第二分光棱镜(9)，另一路经第二载玻片(8)、第二反射镜(5)和透镜(6)到达第二分光棱镜(9)，第二分光棱镜(9)的输出光束到达CCD的图像接收系统(10)，CCD的图像接收系统(10)的输出连接到计算机(11)。