[发明专利]电子元件漏件检测方法和系统有效
| 申请号： | 201610251817.5 | 申请日： | 2016-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN105957059B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 林建民 | 申请（专利权）人： | 广州视源电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 李巍 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元件漏件检测方法和系统，其中，所述方法包括如下步骤：对获取的电子元件的电路板的模板图像和测试图像分别进行边缘图像提取，得到第一边缘图像和第二边缘图像；对所述第一边缘图像和第二边缘图像分别进行分区，并对各个分区上的第一边缘图像和第二边缘图像进行特征提取，得到模板图像的第一特征参数和测试图像的第二特征参数；根据第一特征参数和第二特征参数计算所述模板图像与测试图像的相似度值；根据所述相似度值对电路板进行电子元件漏件检测。上述技术方案，通过有效地提高了电子元件漏件检测的准确率，保证了检测后的电路板的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件漏件检测方法，其特征在于，包括如下步骤：从三个方向上分别对获取的电子元件的电路板的模板图像和测试图像分别进行边缘图像提取，得到三个方向上的模板图像的第一边缘图像和测试图像的第二边缘图像；对所述第一边缘图像和第二边缘图像分别进行分区，并对所述第一边缘图像和第二边缘图像的各个分区进行特征提取，得到所述模板图像的第一特征参数和所述测试图像的第二特征参数；根据所述第一特征参数和第二特征参数计算所述模板图像与测试图像的相似度值；根据所述相似度值对所述电路板进行电子元件漏件检测；所述对所述第一边缘图像和第二边缘图像分别进行分区，并对各个分区上的第一边缘图像和第二边缘图像进行特征提取，得到模板图像的第一特征参数和测试图像的第二特征参数的步骤包括：将三个方向上的模板图像的第一边缘图像和测试图像的第二边缘图像分别划分成若干个分区；利用局部二值模式方法计算各个分区的局部二值特征值，分别将第一边缘图像和第二边缘图像的各个分区的局部二值特征值以向量的方式进行组合，得到模板图像的第一特征参数和测试图像的第二特征参数。
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