[发明专利]一种单发次材料光克尔系数测量装置有效
| 申请号： | 201610245981.5 | 申请日： | 2016-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN105699297B | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 张健;刘慎业;易涛;张奔;钟全洁 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/25 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种单发次材料光克尔系数测量装置。所述装置中的飞秒激光器出射的飞秒脉冲通过分光片后将光脉冲分为透射光和反射光，反射光经过光学延时线、半波片、第一离轴抛物面反射镜、反射镜，聚焦到非线性样品中；透射光经过第一凸透镜、超连续谱展宽片，进行超连续谱展宽，超连续谱脉冲经过第二离轴抛物面反射镜、脉冲展宽器、反射镜、第三离轴抛物面反射镜，聚焦进入非线性样品，作为探测脉冲；泵浦脉冲与探测脉冲在非线性样品内部重合，泵浦光激发非线性样品，通过第二凸透镜聚焦进入光谱仪。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单发 材料 克尔 系数 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种单发次材料光克尔系数测量装置，其特征在于：所述装置中的飞秒激光器（1）出射的飞秒脉冲通过分光片（2）后将光脉冲分为透射光和反射光，反射光经过光学延时线（3）、半波片（4）、第一离轴抛物面反射镜（5）、反射镜（6），聚焦到非线性样品（14）中；非线性样品（14）放置在起偏器（13）与检偏器（15）之间，透射光经过第一凸透镜（7）、超连续谱展宽片（8），进行超连续谱展宽，超连续谱脉冲经过第二离轴抛物面反射镜（9）、脉冲展宽器（10）、反射镜（11）、第三离轴抛物面反射镜（12）、再经过透射光路上设置于第三离轴抛物面反射镜（12）后的起偏器（13），聚焦进入非线性样品（14），作为探测脉冲；泵浦脉冲与探测脉冲在非线性样品内部重合，泵浦光激发非线性样品（14），瞬时选通探测脉冲中携带非线性样品（14）参数的频谱成分，该频谱成分经过检偏器（15）由第二凸透镜（16）聚焦进入光谱仪（17）。
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