[发明专利]动态数据的快速写入方法有效
| 申请号： | 201610242880.2 | 申请日： | 2016-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN105954666B | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 辛吉升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种动态数据的快速写入方法，包含的步骤为：第一步，在编写测试向量时，预先设置一个虚拟的测试向量数据，并将该测试向量数据预先载入到逻辑测试仪的SQPG中；第二步，在对待测芯片进行测试时，产生动态数据，将该动态数据存入数据寄存器中；第三步，比较数据寄存器中的动态数据与SQPG中预先存入的虚拟测试向量数据，筛选出不一致的数据，确定SQPG中需要替换的数据的地址；第四步，选中上一步中确定的地址，将寄存器中的对应地址的动态数据写入SQPG中的相应地址中，替换掉该地址中的原虚拟的测试向量数据，形成新的测试向量数据；第五步，运行替换后的新的测试向量数据。本发明提高了动态数据的写入速度，提高集成电路的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 数据 快速 写入 方法 | ||
【主权项】：
1.一种动态数据的快速写入方法，其特征在于：包含如下的步骤：第一步，在编写测试向量时，预先设置一个虚拟的测试向量数据，并将该测试向量数据预先载入到逻辑测试仪的SQPG中；第二步，在对待测芯片进行测试时，产生动态数据，将该动态数据存入数据寄存器中；第三步，比较数据寄存器中的动态数据与SQPG中预先存入的虚拟测试向量数据，筛选出不一致的数据，确定SQPG中需要替换的数据的地址；第四步，选中上一步中确定的地址，将寄存器中的对应地址的动态数据写入SQPG中的相应地址中，替换掉该地址中的原虚拟的测试向量数据，形成新的测试向量数据；第五步，运行替换后的新的测试向量数据。
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