[发明专利]一种用于材料微区应力场测试的显微光弹性实验系统在审

专利信息
申请号: 201610240962.3 申请日: 2016-04-18
公开(公告)号: CN105928775A 公开(公告)日: 2016-09-07
发明(设计)人: 王怀文;王荣;沈廉程;杨璐;黄群 申请(专利权)人: 天津商业大学
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01N3/08
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 韩新城
地址: 300134*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种用于材料微区应力场测试的显微光弹性实验系统,包括:加载单元,包括用于固定试样材料的夹具模块及用于对试样材料施加定量载荷的载荷控制器;光学单元,包括显微镜、置于显微镜观测区域并与显微镜工作空间相适应的显微光弹性仪;用于实现显微光弹性光路以获得放大的试样微区等差线和等倾线条纹;图像采集单元,用于采集显微镜放大的微区干涉条纹图像信号实时显示,获得试样全场的微区偏振光场。本发明实现了显微光弹性光路,可在显微镜较短工作距离内获得试样微区等差线及等倾线条纹,并由图像采集单元在加载的同时进行图像实时采集,获得全场的微区偏振光场,可有效地应用于研究材料微区的应力状态和演化。
搜索关键词: 一种 用于 材料 微区应 力场 测试 显微 弹性 实验 系统
【主权项】:
一种用于材料微区应力场测试的显微光弹性实验系统,其特征在于,包括:加载单元,包括用于固定试样材料的夹具模块,以及用于对试样材料施加定量载荷的载荷控制器;光学单元,用于实现显微光弹性光路以获得放大的试样微区等差线和等倾线条纹,包括显微镜、置于显微镜观测区域并与显微镜工作空间相适应的显微光弹性仪;所述显微光弹性仪包括自下而上沿光路布置的可水平旋转的光学元件,所述光学元件包括可移出或移入光路的一个起偏镜、两个1/4波片、一个检偏镜;图像采集单元,用于采集所述显微镜放大的微区干涉条纹图像信号实时显示,获得试样全场的微区偏振光场。
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