[发明专利]一种浅埋目标高分辨率雷达透视成像质量评估方法在审

专利信息
申请号: 201610239397.9 申请日: 2016-04-18
公开(公告)号: CN105957052A 公开(公告)日: 2016-09-21
发明(设计)人: 刘海波;龙腾;王珣 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李微微;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种浅埋目标高分辨率透视成像雷达成像质量评估方法,针对浅埋目标高分辨率透视成像雷达成像性能评估问题,提出使用自适应信杂比方法定量评估成像效果,本发明通过自适应阀值区分目标区域与背景区域,并引入信杂比指标计算目标区域与背景区域的比值,定量反映了不同成像算法的成像图像质量;该方法在目标与背景明显区分时,适用于成像图像效果的定量评价,排除了较大旁瓣杂波及主观因素对评价指标的影响。
搜索关键词: 一种 目标 高分辨率 雷达 透视 成像 质量 评估 方法
【主权项】:
一种浅埋目标雷达透视成像质量评估方法,其特征在于,包括如下步骤:S00:为全局阈值T选定初值;S01:使用全局阈值T进行分割图像:将雷达透视图像转化为灰度图像,将所述灰度图像中灰度值大于T的所有像素组成集合G1,将所述灰度图像中灰度值小于或等于T的像素组成集合G2;S02:对集合G1和集合G2的像素分别计算平均灰度值m1和m2;S03:更新全局阀值T:<mrow><mi>T</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mn>2</mn></mfrac><mrow><mo>(</mo><msub><mi>m</mi><mn>1</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>m</mi><mn>2</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mrow>S04:重复步骤S01至S03,直到更新后的全局阈值T与更新前的全局阈值的差值小于预设值ΔT,执行S05;S05:根据S04中更新后的全局阈值T,将S01中所述灰度图像进行二值化处理;再将该二值化图像与S01中所述灰度图像进行“与”处理,即在图像中形成目标区域和背景区域;分别计算目标区域和背景区域的能量;再根据能量求目标区域和背景区域的平均功率;S06:求取目标区域与背景区域的信噪比:<mrow><mi>S</mi><mi>C</mi><mi>R</mi><mo>=</mo><mn>10</mn><mi>lg</mi><mfrac><msubsup><mi>P</mi><mrow><mi>a</mi><mi>v</mi><mi>e</mi></mrow><mi>i</mi></msubsup><msubsup><mi>P</mi><mrow><mi>a</mi><mi>v</mi><mi>e</mi></mrow><mi>c</mi></msubsup></mfrac></mrow>其中,为目标区域的平均功率,为背景区域的平均功率;S07:根据S06中的信噪比对图像成像质量进行评估。
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