[发明专利]带GaN子阱的共振隧穿二极管在审

专利信息
申请号: 201610233274.4 申请日: 2016-04-15
公开(公告)号: CN105895670A 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 高博;刘洋 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/20;H01L29/205;H01L29/88;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610064 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开带GaN子阱的共振隧穿二极管(Resonant Tunneling Diode,RTD)的材料结构,见附图,自上而下描述为:重掺杂的AlxGa1‑xN发射区、AlGaN/GaN发射极异质结隔离区、AlyGa1‑yN势垒、GaN势阱、AlyGa1‑yN势垒、GaN集电极隔离区、重掺杂的GaN集电区。本结构相对于GaN基双势垒RTD结构,创新地采用了AlxGa1‑xN作为发射区、AlxGa1‑xN/GaN异质结作为发射极隔离区,异质结极化效应将产生二维电子气作为子量子阱。仿真在室温下(300K)进行,仿真采用x=0.2,y=0.2,GaN隔离层采用x=3nm,峰值电流Ip=44.67 mA/um2,谷值电流Iv=7.87mA/um2,PVCR=5.68,性能参数比GaN基双势垒RTD提高了一个数量级,也是目前RTD研究报道中性能最优。这种结构的RTD输出电流大、峰谷比值大,将其应用于太赫兹波振荡源设计,满足输出大功率太赫兹波的应用要求。
搜索关键词: gan 共振 二极管
【主权项】:
带GaN子阱的共振隧穿二极管(Resonant Tunneling Diode, RTD)的基本结构组成是:双势垒单势阱区夹在AlGaN/GaN异质结隔离区和GaN集电极隔离区之间,所得结构又夹在发射区和集电区之间,从而形成器件整体结构。
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