[发明专利]快速测试回收液晶纯度的方法有效
申请号: | 201610207937.5 | 申请日: | 2016-04-05 |
公开(公告)号: | CN105891360B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 巫景铭 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/06 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种快速测试回收液晶纯度的方法,回收液晶经溶剂稀释后进入气相色谱‑质谱联用仪,在选择性离子检测模式下检测各型号液晶的特定组分的特定离子碎片,然后用总离子流色谱图识别和计算回收液晶是否发生混料以及混料的液晶型号、混料后液晶纯度和其他混入液晶的含量;该方法简单可行,能快速测试回收液晶混料情况,鉴别回收液晶的品质,同时延长了气相色谱‑质谱联用仪的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 快速 测试 回收 液晶 纯度 方法 | ||
【主权项】:
1.一种快速测试回收液晶纯度的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、建立液晶混料测试方法,具体包括:步骤11、配制各型号液晶测试液;步骤12、测试各型号液晶测试液:将已启动预热完成的气相色谱‑质谱联用仪设置在扫描离子检测模式下进行检测,并设置测试参数;待设备就绪后,取一定量各型号液晶测试液注入气相色谱‑质谱联用仪中,按照设定参数采集色谱峰,得到各型号液晶的总离子流色谱图;步骤13、确定各型号液晶的特定组分:将各型号液晶的总离子流色谱图进行叠加,根据保留时间为各型号液晶选择一个特定组分,选定的特定组分的保留时间需与其他型号液晶的特定组分的保留时间均无重叠;步骤14、对于各型号液晶的特定组分,在选择性离子检测中确定相应的特定离子碎片;步骤15、对于各型号液晶的特定组分,确定相应的数据采集时间,该数据采集时间大于各型号液晶的特定组分的保留时间;步骤16、配制混合液晶测试液,所述混合液晶测试液中各型号液晶的质量相等;步骤17、测试混合液晶测试液:将预热完成的气相色谱‑质谱联用仪设置在选择性离子检测模式下进行检测,并设置与所述步骤12相同的测试参数、所述步骤14选定的各型号液晶的特定组分的特定离子碎片、以及所述步骤15选定的各型号液晶的特定组分的数据采集时间;待设备就绪后,取一定量混合液晶测试液注入处于就绪状态的气相色谱‑质谱联用仪中,按照设定参数采集色谱峰,获得混合液晶的总离子流色谱图;步骤18、获得混合液晶的总离子流色谱图后,得到各型号液晶的特定组分的峰面积SA、SB、SC……,计算各型号液晶的质量响应因子:fA=SA/mA,fB=SB/mB,fC=SC/mC……,其中,mA、mB、mC……表示各型号液晶的质量,且mA=mB=mC=……;步骤2、测试回收液晶的纯度,具体包括:步骤21、制备回收液晶测试液;在进样瓶中加入一定量待测的回收液晶,加入溶剂震荡溶解,得到回收液晶测试液;步骤22、测试回收液晶测试液:将预热完成的气相色谱‑质谱联用仪设置在选择性离子检测模式下进行检测,并设置与所述步骤12和步骤17相同的测试参数、所述步骤14选定的各型号液晶的特定组分的特定离子碎片、以及所述步骤15选定的各型号液晶的特定组分的数据采集时间;待设备就绪后,取一定量回收液晶测试液注入处于就绪状态的气相色谱‑质谱联用仪中,按照设定参数采集色谱峰,获得回收液晶的总离子流色谱图,得到回收液晶中各型号液晶的特定组分的峰面积SSA、SSB、SSC……;步骤23、计算回收液晶的纯度:以X型号液晶为目标回收液晶时,该X型号液晶的纯度
其中,X为各液晶型号A、B、C……中的任意一个。
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