[发明专利]大芯径光纤端面检测方法及设备有效

专利信息
申请号: 201610197735.7 申请日: 2016-03-31
公开(公告)号: CN105890872A 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 罗炜 申请(专利权)人: 罗炜
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01B11/255;G01N21/45
代理公司: 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 代理人: 胡清方;彭友华
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种大芯径光纤端面检测方法和设备,方法包括以下步骤:将单色光通过分光器件分成参考光和用于检测光纤的端面的检测光;将参考光遮挡,调整线性位移机构使光纤端面通过物镜和数字成像系统成像,并使光纤端面的中心与数字成像系统的十字参考线的交点重合;打开参考光,通过微位移机构调整反射镜的位置,使参考光与检测光产生干涉图像;通过曲面调整机构调整光纤的立体空间位置,使在数字成像系统中产生至少一个干涉环;数字成像系统采集干涉图像并通过计算机计算得出曲率半径。本发明测量出光纤端面的曲率半径,能够符合大芯径光纤的端面测量的高精密度要求。
搜索关键词: 大芯径 光纤 端面 检测 方法 设备
【主权项】:
一种大芯径光纤端面检测方法,包括以下步骤:S1、将单色光通过分光器件分成参考光和用于检测光纤端面的检测光;S2、插入大芯径光纤,并使大芯径光纤的待检端面位于预定位置;其特征在于,还包括:S3、通过曲面调整机构调整大芯径光纤待检端面的立体空间位置,从而使大芯径光纤待检端面在数字成像系统中产生至少一个干涉环;S4、所述数字成像系统采集干涉图像。
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