[发明专利]一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置

摘要

本发明公开了一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，涉及微波器件测试技术领域。本发明包括测试平台、定位机构、锁紧机构及上升顶出机构，所述的测试平台支撑于架体之上，定位机构用于对被测管壳进行定位，锁紧机构对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳顶起。其结构简单、使用方便、成本低廉、定位准确，能够提高测试数据的真实可靠性，同时避免管壳受到损坏。

主权项

1.一种底面引线管壳封装的微波器件测试装置，其特征在于，包括测试平台(12)、定位机构、锁紧机构(2)及上升顶出机构，所述的测试平台(12)支撑于架体(13)之上，定位机构压接在被测管壳(10)的边缘，锁紧机构(2)对定位机构进行锁紧，上升顶出机构能够把被测管壳(10)顶起；所述的定位机构包括旋转压板(1)、设于旋转压板(1)内表面上的两个定位条(4)以及设于测试平台(12)上的与上述定位条(4)适配的定位槽(5)，旋转压板(1)上设有被测管壳(10)放置口(11)，定位条(4)设置在放置口(11)相对的两侧，旋转压板(1)的一边与架体(13)的一边通过转轴一(15)转动连接，旋转压板(1)绕转轴一(15)旋转能够盖合在测试平台(12)上，盖合后的旋转压板(1)上的定位条(4)卡合在定位槽(5)内，旋转压板(1)放置口(11)能够压住被测管壳(10)相对的两边缘；锁紧机构(2)设置在与转轴一(15)所在边相对的另一边，盖合后的旋转压板(1)通过锁紧机构(2)压紧；还包括缓冲保护装置(8)，缓冲保护装置(8)与架体(13)或上升顶出机构相连，能够对正在盖合的旋转压板(1)进行缓冲；所述的锁紧机构(2)包括压板和螺钉，压板通过螺钉与架体(13)固定在一起；所述的上升顶出机构位于测试平台(12)的下方，上升顶出机构包括传动杠杆(3)、双转轴传动件(6)、垂直传动件(7)、导向件(9)，所述导向件(9)固定在架体(13)内，垂直传动件(7)与导向件(9)的竖向导槽滑动配合，垂直传动件(7)下端与双转轴传动件(6)通过转轴二(16)转动连接，传动杠杆(3)自架体(13)外穿入架体(13)内部，传动杠杆(3)与架体(13)上的支撑体(19)通过转轴三(17)转动连接，传动杠杆(3)伸入架体(13)的一端与双转轴传动件(6)通过转轴四(18)转动连接，所述测试平台(12)上设有两个导向孔(14)，垂直传动件(7)上端的两个顶柱在传动杠杆(3)的作用下向上穿过两个导向孔(14)，能够顶起位于测试平台(12)上的被测管壳(10)。