[发明专利]一种对陶瓷釉SEM图像微相形状距离的计算方法在审

专利信息
申请号: 201610196318.0 申请日: 2016-03-31
公开(公告)号: CN105894510A 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 王晓霞;王芬;姚斌;何立风 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/40;G06T7/60
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 段俊涛
地址: 710021 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种对陶瓷釉SEM图像微相形状距离计算方法,具体步骤有:步骤一:选择读取清晰的SEM灰度值图像;步骤二:分析和处理SEM图像,对SEM图像从头开始,判断并选取像素灰度值变化小于10的连续区域,计算该区域的灰度像素均值,用一维数组a保存各区域像素均值;步骤三:用像素均值做阈值,设计算法求各微相对应的最佳阈值,并对最佳阈值排序,用一维数组b保存;步骤四:对a,b两个数组进行处理找对应的标记号,并用对应的标记号完成整个SEM图像所有区域轮廓标记;步骤五:用标记号判断并进行计算各微相微球形状信息(圆形度,半径,球心等)和距离信息(两球心之距离),步骤六:用此方法分析大量不同温度、呈色的SEM图像,并找出规律。
搜索关键词: 一种 陶瓷 sem 图像 相形 距离 计算方法
【主权项】:
一种对陶瓷釉SEM图像微相形状距离的计算方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:在样品烧成过程中,在不同温度点取出样品,待其冷却至室温后,进行样品切割、清洗、干燥,再进行SEM分析,并记录保存对应烧成温度和呈色状态;步骤二:根据SEM灰度图像微相信息特征,对SEM图像从头开始,判断并选取灰度像素值变化小于10的连续区域,计算各连续区域的灰度像素均值,用一维数组a保存,第一个连续区域的灰度像素均值即数组a的第一个元素;步骤三:用所述灰度像素均值做阈值,设计算法求出各微相对应的最佳阈值,对最佳阈值按照大小排序,并用一维数组b保存;步骤四:比较分析数组a和数组b,从数组a的第一个元素开始,在数组b中找到与数组a元素相同的数组b元素,用当前数组b元素值替换数组a中对应的元素值,得到数组c,用数组c进行区域轮廓标记;步骤五:对标记过的SEM图像,判断并进行计算各微相的微球形状信息和距离信息。
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