[发明专利]测试系统、试验装置有效
| 申请号： | 201610178915.0 | 申请日： | 2016-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN105957559B | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | 小杉真章;大黑贵司;坂本满祐;藤井俊朗;本间尚宏;大森秀人 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够容易地与最新的半导体器件对应、以及/或者能够抑制成本的上升的测试系统。至少一个通用服务器(110)经由以太网(注册商标)与PE模块(120)连接。PE模块(120)的控制部(130)对PE电路(122)及多个失败存储器(124)进行实时控制，并且暂时保持多个失败存储器(124)的失败信息，在进行数据处理之后向通用服务器(110)进行传输。通用服务器(110)以基于来自PE模块(120)的数据进行DUT(202)的冗余救济分析的方式而进行程序控制。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试系统，其特征在于，具备：引脚电子模块；以及至少一个通用服务器，各个所述通用服务器经由以太网与所述引脚电子模块连接，所述引脚电子模块具备：引脚电子电路，其获取被试验器件的失败信息；多个失败存储器，其存放所述失败信息；以及控制部，其对所述引脚电子电路及所述多个失败存储器进行实时控制，并且暂时保持所述多个失败存储器的所述失败信息，对所述失败信息进行数据处理，并将处理后的所述失败信息向所述通用服务器进行传输，通过对所述通用服务器进行计算机程序控制，由此基于来自所述引脚电子模块的处理后的所述失败信息进行所述被试验器件的冗余救济分析。
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