[发明专利]一种利用矿物光谱计算伊利石结晶度的方法

摘要

本发明属于岩矿光谱分析技术领域，具体涉及一种利用矿物光谱计算伊利石结晶度的方法。本发明包括如下步骤步骤1、对岩矿样品进行光谱测量；步骤2、对获得的岩石光谱进行归一化处理；步骤3、伊利石判断；步骤4、特征参数提取；步骤5、伊利石结晶度IC(i)计算。本发明通过伊利石的光谱特征进行伊利石结晶度的计算，其原理是基于伊利石中含水基团和铝羟基基团振动所引起的特定位置的光谱吸收，从而使得无需像X射线粉晶衍射分析那样对岩石样品进行细致的前处理和复杂的样品分析工作，也不会对岩石矿物样品形成破坏，能够较好满足地质勘探的需求；本发明能够应用于岩矿光谱分析及矿产勘查等技术领域。

主权项

一种利用矿物光谱计算伊利石结晶度的方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤(1)、对岩矿样品进行光谱测量：具体包括：步骤(1.1)、矿石样品前处理；步骤(1.2)、岩石光谱测量；步骤(2)、对获得的岩石光谱进行归一化处理：具体包括：步骤(2.1)、岩矿光谱波段截取；步骤(2.2)、岩矿光谱归一化；步骤(3)、伊利石判断；步骤(4)、特征参数提取：具体包括：步骤(4.1)、采用光谱微分法对归一化后的伊利石光谱进行参数提取，重点确定1900nm和2200nm附近的吸收峰位置，分别记作C1900nm(i)和C2200nm(i)；步骤(4.2)、将吸收峰位置值代入归一化的光谱曲线中，获得纵坐标值，分别记作Y1900nm(i)和Y2200nm(i)，则对应的吸收深度D1900nm(i)＝1‑Y1900nm(i)，D2200nm(i)＝1‑Y2200nm(i)；步骤(5)、伊利石结晶度IC(i)计算。