[发明专利]双包层光纤激光器包层光比例的测量方法有效

专利信息
申请号: 201610169839.7 申请日: 2016-03-24
公开(公告)号: CN105758622B 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 孔令超;冷进勇;郭少锋;周朴;许晓军;姜宗福;陈金宝 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙)43008 代理人: 赵洪,黄丽
地址: 410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种双包层光纤激光器包层光比例的测量方法。该测量方法包括将双包层光纤激光器输出光纤的端面采用透镜组进行等比例放大成像,在透镜组的像面处设置孔径可调的光阑,通过调节光阑的孔径大小使双包层光纤激光器输出光中的纤芯光全部通过光阑而包层光被光阑阻挡,测试光阑前输出光光斑的功率P1和光阑后纤芯光光斑的功率P2,得到双包层光纤激光器输出光的包层光比例为(P1-P2)/P1。本发明测量方法的测量范围大、测量精度高,可应用于高功率双包层光纤激光器包层光比例的测量。
搜索关键词: 包层 光纤 激光器 比例 测量方法
【主权项】:
一种双包层光纤激光器包层光比例的测量方法,其特征在于,所述测量方法包括以下步骤:将双包层光纤激光器输出光纤的端面采用透镜组进行等比例放大成像,在所述透镜组的像面处设置孔径可调的光阑,通过调节所述光阑的孔径大小使所述双包层光纤激光器输出光中的纤芯光全部通过光阑而包层光被光阑阻挡,测量光阑前输出光光斑的功率P1和光阑后纤芯光光斑的功率P2,得到所述双包层光纤激光器输出光的包层光比例为(P1-P2)/P1;所述测量方法还包括所述输出光的信号光波段中信号光波段包层光比例的测量,具体过程如下:在所述透镜组与所述光阑之间设置二色镜和楔形镜,所述二色镜将所述透镜组放大成像后的输出光中的泵浦光波段包层光滤除,并将所述输出光中的信号光波段包层光和纤芯光反射至所述楔形镜,所述楔形镜将所述二色镜反射的信号光波段包层光和纤芯光反射至所述光阑,通过调节所述光阑的孔径大小使所述纤芯光全部通过光阑而所述信号光波段包层光被光阑阻挡,测量光阑前信号光波段包层光与纤芯光组成的光斑的功率P3和光阑后纤芯光光斑的功率P2,得到所述双包层光纤激光器输出光的信号光波段中信号光波段包层光的比例为(P3-P2)/P3。
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