[发明专利]一种基于激光跟踪仪的机床空间精度全方位测量方法

摘要

一种基于激光跟踪仪的机床空间精度全方位测量方法，先将靶镜与激光跟踪仪对好光，然后将靶镜吸附在转台装置上端十字滑台中心处，控制转台装置旋转，使激光跟踪仪激光束与靶镜端面尽可能垂直，然后调节十字滑台，使靶镜中心与转台装置回转中心的位置重合，再从第一基站处向下一个基站方向移动激光跟踪仪，然后控制转台装置旋转，调节完成后基站处的测量，重复完成整个测量过程，实现单台激光跟踪仪在机床四周任意方位的快速低成本测量，本发明方法可以在靶镜周边任意方位设立基站，更精确更快速的实现精度测量。

主权项

一种基于激光跟踪仪的机床空间精度全方位测量方法，通过转台装置及相应的靶镜调节，实现单台激光跟踪仪在机床四周任意方位的快速测量，其特征在于，包括以下步骤：第一步：首先将靶镜与激光跟踪仪对好光，然后将靶镜吸附在转台装置上端十字滑台(6)中心处，控制转台装置旋转，使激光跟踪仪激光束与靶镜端面尽可能垂直；第二步：调节转台装置上端的十字滑台(6)，使靶镜中心与转台装置回转中心的位置重合；第三步：从第一基站P1处向下一个基站P2方向移动激光跟踪仪至位置处，设靶镜中心位置为O点，保证∠P1OP1'<20°；第四步：控制转台装置旋转，使靶镜朝位置P1'方向旋转，旋转角度小于40°；第五步：从位置P1'处朝下一基站P2方向移动激光跟踪仪至P1位置处，保证∠P1OP1'<40°；第六步：重复第四、第五步，直至将激光跟踪仪移动至基站P2位置处；第七步：控制转台装置旋转，使激光跟踪仪激光束与靶镜端面尽可能垂直，调节完成后开始基站P2处的测量；第八步：在基站P2处的测量完成后，控制转台装置旋转，使激光跟踪仪激光束与靶镜端面尽可能垂直，重复第三步至第七步，分别将激光跟踪仪从基站P2处移动至基站P3，从基站P3处移动至基站P4处，完成整个测量过程。