[发明专利]热电偶线测试电路

摘要

热电偶线测试电路(C)，包括：电流源端子(S)，用于在测试模式期间经由第一端子(F1)而将测试电流供应到第一热电偶线(T1)；电流漏端子(G)，用于在所述测试模式期间经由第二端子(F2)而从第二热电偶线(T2)接收所述测试电流；参考电阻器(R_Ref)，用于产生参考电压，所述参考电阻器被布置在所述测试电流的电流电路中；以及处理单元(ADC、SO)，可联接到所述第一端子(F1)和所述第二端子(F2)以及所述参考电阻器(R_Ref)，且被配置成把所述第一端子(F1)与所述第二端子之间由所述测试电流引起的电压降与所述参考电压做比较。

主权项

1.一种用于测试热电偶的第一热电偶线(T1)和第二热电偶线(T2)的热电偶线测试电路(C)，包括：电流源端子(S)，用于在测试模式期间，经由第一端子(F1)供应测试电流给第一热电偶线(T1)；电流漏端子(G)，用于在所述测试模式期间，经由第二端子(F2)从第二热电偶线(T2)接收所述测试电流；参考电阻器(RRef)，用于产生参考电压，所述参考电阻器被布置在所述测试电流的电流电路中；处理单元(ADC、SO)，可联接到所述第一端子(F1)和所述第二端子(F2)以及所述参考电阻器(RRef)；以及开关(W1、W2)，所述开关实施为引导所述测试电流在第一阶段中流经所述热电偶线(T1、T2)和所述参考电阻器(RRef)或者在第二阶段中仅流经所述参考电阻器(RRef)，其中所述处理单元(ADC、SO)被配置成：在所述第一阶段和所述第二阶段中，分接所述第一端子(F1)与所述第二端子之间由所述测试电流引起的电压降并且将所述电压降与所述参考电压做比较，其中在所述第一阶段中的所述电压降由热电效应所引起的热电压(Vthermo)所产生的分量和所述热电偶线(T1、T2)的电阻分量所产生的电压分量(VRTC)组成，并且其中在所述第二阶段中的所述电压降仅由所述热电压(Vthermo)组成，消除在所述第二阶段期间测量的所述热电压(Vthermo)对所述第一阶段期间分接的所述电压降的贡献，基于参考电阻器(RRef)的电阻来确定所述第一热电偶线(T1)和所述第二热电偶线(T2)的欧姆电阻，以及确定所述第一热电偶线(T1)和所述第二热电偶线(T2)的缺陷。