[发明专利]用于光学收发器校准和测试的方法和装置有效
| 申请号： | 201610154657.2 | 申请日： | 2016-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN106470069B | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | R·马科西亚;T·J·施密特;G·R·索斯诺斯基;C·马洛因 | 申请（专利权）人： | 瞻博网络公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07;H04B10/40;H04B17/11;H04B17/21 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 酆迅 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在一些实施例中，一种装置包括具有更换治具的自动集成电路(IC)处置器。更换治具具有能够可移动地布置到自动测试设备(ATE)上的活塞。在这样的实施例中，ATE被配置为接纳具有光学接口的集成电路。活塞具有第一位置和第二位置。在这样的实施例中，当活塞处于第一位置中时，活塞与集成电路没有接触。当活塞处于第二位置中时，活塞包括操作地耦合到集成电路的光学接口的光学连接器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 收发 校准 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于光学收发器校准和测试的装置，包括：具有更换治具和至少一个光学检测器的自动集成电路(IC)处置器，所述更换治具具有活塞，所述活塞能够可移动地布置到自动测试设备ATE上，所述ATE被配置为接纳具有光学接口的集成电路，所述活塞具有第一位置和第二位置，当所述活塞处于所述第一位置中时，所述活塞与所述集成电路没有接触，当所述活塞处于所述第二位置中时，所述活塞具有操作地耦合到所述集成电路的所述光学接口的光学连接器，所述至少一个光学检测器被配置为当所述活塞处于所述第二位置中时测试所述集成电路的光学功率。
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