[发明专利]一种纤芯的定位方法及光纤熔接的纤芯对位校准方法有效
申请号: | 201610148104.6 | 申请日: | 2016-03-15 |
公开(公告)号: | CN105676356B | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 黄志华;唐选;李成钰;郭超;林宏奂;王建军 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G02B6/255 | 分类号: | G02B6/255 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吴开磊 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例公开了一种纤芯的定位方法及光纤熔接的纤芯对位校准方法,涉及光纤熔接领域,纤芯的定位方法,包括:获取待测光纤的图像的灰度分布曲线,获得所述第一部分内的第一灰度值最低点和第二部分内的第二灰度值最低点,根据所述第一灰度值最低点与所述第一灰度值最高点确定光纤的第一焦斑边缘,根据所述第二灰度值最低点与所述第二灰度值最高点确定光纤的第二焦斑边缘,根据所述光纤的第一焦斑边缘和第二焦斑边缘确定光纤的纤芯区域,根据所述纤芯区域确定第一纤芯边缘和第二纤芯边缘,将所述第一纤芯边缘和第二纤芯边缘之间的区域作为纤芯,将所述第一纤芯边缘和第二纤芯边缘之间的宽度范围的中间点作为纤芯中心。 | ||
搜索关键词: | 一种 定位 方法 光纤 熔接 对位 校准 | ||
【主权项】:
1.一种纤芯的定位方法,其特征在于,包括:获取待测光纤的图像的灰度分布曲线,所述灰度分布曲线的横坐标为沿所述图像沿预设方向的每个像素点值,纵坐标为每个所述像素点对应的灰度值,其中,所述待测光纤的图像包括待测光纤的内包层图像、光纤的焦斑区图像和纤芯图像,所述预设方向与所述待测光纤的长度方向呈预设夹角,所述预设方向依次经过所述待测光纤的一侧包层边缘和纤芯中心后至对侧包层边缘;以所述横坐标的中心点将所述灰度分布曲线划分为第一部分和第二部分,获得所述第一部分内的第一灰度值最低点和第二部分内的第二灰度值最低点;获取所述第一灰度值最低点与所述第一灰度值最低点与所述中心点之间的第一灰度值最高点之间的某一个点以及所述第二灰度值最低点与所述第二灰度值最低点与所述中心点之间的第二灰度值最高点之间的某一个点;根据所述第一灰度值最低点与所述第一灰度值最高点之间的某一个点确定光纤的第一焦斑边缘,根据所述第二灰度值最低点与所述第二灰度值最高点之间的某一个点确定光纤的第二焦斑边缘;根据所述光纤的第一焦斑边缘和第二焦斑边缘确定的中心为基准点而设定一个范围,该范围能够包围位于所述基准点的附近的两侧的灰度值最低的两个点,该范围内的位于第一部分的侧边标记为第一边缘,该范围内的位于第二部分的侧边标记为第二边缘,根据在所述第一边缘与所述中心点之间获得的灰度值最低点确定第一纤芯边缘,根据在所述第二边缘与所述中心点之间获得的灰度值最低点确定第二纤芯边缘;将所述第一纤芯边缘和第二纤芯边缘之间的区域作为纤芯,将所述第一纤芯边缘和第二纤芯边缘之间的宽度范围的中间点作为纤芯中心。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心,未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610148104.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。