[发明专利]一种基于CMOS拍摄成像的测量系统在审
| 申请号： | 201610147945.5 | 申请日： | 2016-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN105651178A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 吴加富;缪磊;曹强强 | 申请（专利权）人： | 苏州富强科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人： | 史霞 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，包括：控制系统；工作台；设于所述工作台上的待测物固定组件；以及固定在所述工作台上的导轨组件，其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上可往复滑动地设有CMOS检测组件，所述导轨组件及所述CMOS检测组件分别与所述控制系统电连接。本发明具有确保在保证测量精度的前提下通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度，从而导致减少整个测量过程所耗费的时间的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 cmos 拍摄 成像 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，其特征在于，包括：控制系统；工作台；设于所述工作台上的待测物固定组件；以及固定在所述工作台上的导轨组件，其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上可往复滑动地设有CMOS检测组件，所述导轨组件及所述CMOS检测组件分别与所述控制系统电连接。
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