[发明专利]高温老化测试系统有效
| 申请号： | 201610137595.4 | 申请日： | 2016-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN105807157B | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 欧永明;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科技南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种高温老化测试系统，所述高温老化测试系统包括存储设备、高温箱，还包括供电板、控制电路；所述存储设备，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后自动执行所述老化测试程序；所述供电板，用于对连接其上的所述存储设备进行供电；所述高温箱，用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热，以提供高温环境；所述控制电路，用于控制对所述供电板的供电。本发明实现了在高温老化测试中降低对资源的占用。 | ||
| 搜索关键词： | 高温 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种高温老化测试系统，包括存储设备、高温箱，其特征在于，所述高温老化测试系统还包括供电板、控制电路；所述存储设备，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后自动执行所述老化测试程序；所述供电板，用于对连接其上的所述存储设备进行供电；所述高温箱，用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热，以提供高温环境；所述控制电路，用于控制对所述供电板的供电。
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