[发明专利]一种全场X射线成像系统及成像方法在审
| 申请号： | 201610130464.3 | 申请日： | 2016-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN105806860A | 公开（公告）日： | 2016-07-27 |
| 发明（设计）人： | 邓彪;杜国浩;佟亚军;陈荣昌;丰丙刚;肖体乔 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/223 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪;杨希 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种全场X射线成像系统及成像方法，其中所述系统包括：X射线光源；铅准直器，其对所述X射线光源输出的X射线进行限束以输出X射线锥束；设置在所述铅准直器输出侧的用于放置样品的样品台；X射线成像探测器，其探测从所述样品透射出的X射线，并获得一组X射线显微CT投影数据；X射线成像光谱仪，其探测所述样品激发出的特征X射线荧光，并获得一组X射线荧光CT投影数据；以及与所述X射线成像探测器和所述X射线成像光谱仪连接的数据处理装置。采用本发明可以同时实现X射线荧光CT与显微CT全场成像，获得样品中元素三维分布及内部结构信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全场 射线 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种全场X射线成像系统，其特征在于，所述系统包括：X射线光源；设置在所述X射线光源输出侧的铅准直器，其对所述X射线光源输出的X射线进行限束以输出X射线锥束；设置在所述铅准直器输出侧的用于放置样品的样品台，以使所述样品接受从所述铅准直器输出的X射线锥束照射，并激发出特征X射线荧光；设置在所述样品台一侧的X射线成像探测器，其探测从所述样品透射出的X射线，并获得一组X射线显微CT投影数据；设置在所述样品台一侧的X射线成像光谱仪，其探测所述样品激发出的特征X射线荧光，并获得一组X射线荧光CT投影数据；以及与所述X射线成像探测器和所述X射线成像光谱仪连接的数据处理装置，其根据所述X射线显微CT投影数据重构获得样品内部结构图像，根据所述X射线荧光CT投影数据重构获得样品元素分布图像，并将所述样品内部结构图像与所述样品元素分布图像融合以获得样品结构及元素分布信息。
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