[发明专利]用于大型航天器检漏的检漏灵敏度后标定方法

摘要

本发明公开了一种对大型航天器总漏率进行测试的检漏灵敏度后标定方法，包括对被测产品充氦气后进行漏率粗检，完成粗检后，产品在充氦状态下进入真空容器，真空容器抽空后，进行细检和漏率标定。本发明的漏率后标定方法，进行一次充放气操作，即可完成产品的粗检和细检两个环节，对于大型航天器来说，显著节省了氦气消耗、缩短了检漏周期。

主权项

1.对大型航天器总漏率进行测试的检漏灵敏度后标定方法，包括对被测产品充氦气后进行漏率粗检，完成粗检后，产品在充氦状态下进入真空容器，真空容器抽空后，进行细检和漏率标定，具体包括如下步骤：1)使待测航天器充入氦气，完成粗检，待测航天器产品在充氦状态下放入真空容器并密封，真空容器上设置若干个不同量程的标准漏孔，利用分子泵及前级泵将真空容器抽至检漏工作真空度；2)打开氦质谱检漏仪入口阀门，因待测航天器产品处于充氦状态，此时氦质谱检漏仪的读数即为产品漏率的反应值，记录该值完成细检；3)采用漏率标定系统进行漏率标定，根据被测航天器产品漏率在氦质谱检漏仪上的反应值，从若干个标准漏孔中选择一个与反应值漏率量程相当的标准漏孔，打开其出口阀门，将已知的标准漏率引入真空容器，待检漏仪反应值稳定后，记录读数，根据前后记录的反应值之间的比例关系，标定出检漏系统的检漏灵敏度，进而计算得到待测航天器产品的漏率。