[发明专利]一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法

摘要

本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，具体流程如下：筛选含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质设计标准曲线，选择混合熔剂熔融制备标准样品，确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应，建立标准曲线，以定值样品验证方法准确度及重现性，测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷；本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段，相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应，使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力；本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点，单个矿石样品平均处理时间不超过20 min。

主权项

一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，其特征在于步骤如下：（1）选择至少10个含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质建立标准曲线；（2）准确称取8.000 g混合熔剂，倒入铂黄坩埚内，加入标准物质，混合熔剂与标准物质的质量比为1:10，加入与脱模剂，混合熔剂于脱膜剂的质量比为1:40，搅拌混匀；（3）将铂黄坩埚放入已升温的熔样机内，进行熔样，结束后取出自然冷却；（4）待步骤（1）中所选的标准物质熔融完成后，扫描各标准物质确定待测元素仪器分析条件；（5）根据仪器条件分析标准样品，建立标准曲线；（6）校正基体及谱线重叠效应，以α系数法校正铷以外待测元素的基体效应，铷的基体效应则以康普顿散射内标法校正，各待测组分间不存在谱线重叠；（7）将已定值铷矿石样品按步骤（1）至（5）进行熔融制样并分析，与步骤（6）得到的结果进行比对验证，如果满足要求即投入使用，若结果不满意，则重新进行基体及谱线重叠效应校正。