[发明专利]一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置

摘要

本发明提供了一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，采用以下步骤：(1)调用模数转换子程序及IIC协议，读取触点输入电压；(2)判断继电器输出命令，选择数字量范围；(3)判断数字量回检输入是否正常，若是，测试次数减1，继电器输出命令取反，并执行下一步，若否，调用报警子程序；(4)调用显示子程序，控制显示模块显示设置及测试次数，并返回到步骤(1)重新执行。本发明提供的一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，其能对继电器的励磁性能进行检测。

主权项

1.一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，其特征在于：包括单片机、用于设置测试次数和启动程序的设置模块、用于将继电器的模拟输入信号转换为数字信号的模数转换模块、继电器驱动模块、用于接入继电器的继电器连接模块和在判断出继电器误动作或不满足标准时进行报警的报警模块，所述设置模块、模数转换模块、继电器驱动模块以及报警模块均与所述单片机连接，所述继电器连接模块分别与所述继电器驱动模块和所述模数转换模块连接；所述继电器驱动模块包括两个三极管以及一个单刀双掷开关，单片机的继电器控制命令引脚与单刀双掷开关的控制端连接，单刀双掷开关一端为其中一三极管的基极，另一端为另一三极管的基极，其中一三极管的集电极和发射极连接并联连接的四个继电器，另一三极管的集电极和发射极连接并联连接的另外四个继电器，所述继电器连接模块包括八个二极管，所述二极管的正极与其中一个继电器连接，负极与模数转换模块连接；还包括显示模块，所述显示模块包括两个锁存器以及数码管，所述锁存器均与所述单片机连接，所述数码管与所述两个锁存器连接，所述单片机控制锁存器驱动数码管进行显示。