[发明专利]电子元件包装载带检测方法及装置有效
| 申请号： | 201610111494.X | 申请日： | 2016-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN106144069B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 王安田;黄清泰;林芳旭 | 申请（专利权）人： | 万润科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B65B57/14 | 分类号： | B65B57/14;B65B15/04 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 孙英杰;陈亮 |
| 地址： | 中国台湾高雄*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子元件包装载带检测方法及装置。该电子元件包装载带检测方法包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当所述检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，压盖被驱动上移与检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 装载 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件包装载带检测方法，包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置包括一检测座架，其上设有一载座，并在该载座载设一检测件；在该载座下方设有一承载座，该承载座朝该检测件一侧设有移载座，该移载座受驱动可作上、下位移；该移载座上设有一压盖架，该压盖架设置一压盖；该压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当该检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，该压盖被驱动上移与该检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。
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