[发明专利]一种提高PZT铁电薄膜负电容的方法有效

专利信息
申请号: 201610110669.5 申请日: 2016-02-29
公开(公告)号: CN105788864B 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 肖永光;王江;马东波;唐明华 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01G7/06 分类号: H01G7/06;C04B35/491;C04B35/622;C04B35/624
代理公司: 湘潭市汇智专利事务所(普通合伙)43108 代理人: 冷玉萍
地址: 411105 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种提高PZT铁电薄膜负电容的方法。本发明包括以下步骤①前驱体溶液的配置配置不同锆钛比的Pb(Zr1‑xTix) O3溶液;②用溶胶‑凝胶法制得PZT铁电薄膜电容器;③对PZT铁电薄膜电容器进行电学性能分析。本发明通过分析锆钛比对PZT铁电薄膜电容器电学性能的影响,得到提高PZT铁电薄膜负电容的最佳比率。本发明提出了一种提高PZT铁电薄膜负电容的有效方法,对低电压、低功耗MOS结构场效应晶体管的设计具有非常重要的指导意义。
搜索关键词: 一种 提高 pzt 薄膜 电容 方法
【主权项】:
一种提高PZT铁电薄膜负电容的方法,采用溶胶‑凝胶法制备不同锆钛组分比x的PZT铁电薄膜电容器,包括PZT前驱体溶胶的制备及PZT铁电薄膜电容器的制备,所述的PZT铁电薄膜电容器的制备包括在HfO2绝缘介质/硅衬底结构上涂覆PZT前驱体溶胶;其特征在于,锆钛组分比x为(1.2~5)/(52~72)的物质的量之比,且x小于0.065。
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