[发明专利]用于测量和控制带电粒子笔形射束的多分辨率检测器有效

专利信息
申请号: 201610105709.7 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN105920744B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: R·P·布瓦索;A·达特;J·戈登;K·奥塔 申请(专利权)人: 皮瑞米德技术咨询公司
主分类号: A61N5/10 分类号: A61N5/10
代理公司: 11269 北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 严慎<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种多分辨率检测器包括高分辨率像素化电极和低分辨率像素化电极。高分辨率像素化电极包括第一像素的多个子阵列。每个子阵列中的每个相对位置处的每个分别的第一像素彼此并联电连接。低分辨率像素化电极包括多个第二像素。控制系统接收作为输入的来自每个像素化检测器的输出。控制系统使用这些输入来以高分辨率像素化电极的分辨率确定入射的带电粒子笔形射束的物理位置和横向强度分布。
搜索关键词: 用于 测量 控制 带电 粒子 笔形 分辨率 检测器
【主权项】:
1.一种用于检测带电粒子笔形射束的特性的系统,所述系统包括:/n多分辨率检测器,所述多分辨率检测器被设置为邻近等中心平面,所述多分辨率检测器包括:/n第一像素化电极,所述第一像素化电极包括第一像素的多个子阵列,其中每个子阵列中的每个相对位置处的每个分别的第一像素彼此并联电连接,以使得所述第一像素化电极动态地产生第一输出,所述第一输出表示来自所述子阵列的所述分别的第一像素的组合的电输出,所述第一像素检测由带电粒子笔形射束创建的电流;/n第二像素化电极,所述第二像素化电极包括多个第二像素,所述第二像素化电极被配置来动态地产生第二输出,所述第二输出表示所述带电粒子笔形射束在基本上平行于所述等中心平面的平面中的物理位置,所述第二像素化电极具有小于所述第一像素化电极的第一分辨率的第二分辨率;以及/n高压平面,所述高压平面被设置在所述第一像素化电极和所述第二像素化电极之间,/n诊断控制系统,所述诊断控制系统包括存储器和处理器,所述诊断控制系统被配置来:接收作为输入的所述第一输出和所述第二输出,并且基于所述第一输出和所述第二输出来确定带电粒子射束的实际位置和实际横向强度分布,所述实际位置和所述实际横向强度分布具有所述第一分辨率。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皮瑞米德技术咨询公司,未经皮瑞米德技术咨询公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610105709.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top