[发明专利]应变传感器以及变形量测定方法有效
| 申请号： | 201610104519.3 | 申请日： | 2016-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN105928465B | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 池田和树;黑泽崇;植村英生 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李洋;杨林森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种应变传感器及变形量测定方法，应变传感器具备：光源，其射出光；标识器，其被设置于被测定对象物的表面，并反射从光源射出的光；检测部，其检测由标识器反射后的光的光强度；以及信号处理部，其根据由检测部检测出的光强度计算变形量。另外，标识器具备折射率不同的第一介质及第二介质。另外，第二介质在与标识器的设置面平行的平面上与第一介质同时存在，并且，周期性地被排列在第一介质内，第二介质的与标识器的设置面平行的方向的最大长度被形成为比从光源射出的光的波长短，第一介质及第二介质受到与标识器的设置面平行的方向的载荷而变形。 | ||
| 搜索关键词： | 应变 传感器 以及 变形 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种应变传感器，其特征在于，具备：光源，其射出光；标识器，其被设置于被测定对象物的表面，反射或透过从上述光源射出的光；检测部，其检测由上述标识器反射或透过后的光的光强度；以及信号处理部，其根据由上述检测部检测出的光强度计算变形量，上述标识器被形成为具有折射率不同的第一介质及第二介质的平板薄膜状，上述第二介质在与上述标识器的设置面平行的平面上与上述第一介质同时存在，并且周期性地被排列于上述第一介质内，上述第二介质的与上述标识器的设置面平行的方向的最大长度被形成为比从上述光源射出的光的波长短，上述第一介质及上述第二介质相对于与上述标识器的设置面平行的方向的载荷而变形，上述光源射出多束向与上述标识器的设置面平行的方向偏振且偏振方向彼此不同的光，上述检测部进一步检测由上述标识器反射或透过后的光的偏振方向，上述信号处理部根据由上述检测部检测出的光强度及偏振方向计算应变方向。
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