[发明专利]发光二极管的外延结构和外延结构的制备方法有效
申请号: | 201610091902.X | 申请日: | 2016-02-18 |
公开(公告)号: | CN105720149B | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 霍丽艳 | 申请(专利权)人: | 圆融光电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马爽;黄健 |
地址: | 243000 安徽省马鞍*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种发光二极管的外延结构和外延结构的制备方法。本发明提供的发光二极管的外延结构,包括:在衬底上由下至上依次生长的U型氮化镓GaN层、N型GaN层、功能层、发光层和P型GaN层,所述功能层掺入硅元素、铝元素和铟元素。本发明提供的发光二极管的外延结构,提高了发光二极管的发光效率,增强了发光二极管对抗静电击穿的能力,提高了发光二极管的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 发光二极管 外延 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种发光二极管的外延结构,其特征在于,所述外延结构包括:在衬底上由下至上依次生长的U型氮化镓GaN层、N型GaN层、功能层、发光层和P型GaN层,所述功能层掺入硅元素、铝元素和铟元素;其中,所述功能层为超晶格结构,所述功能层至少包括3个由下至上依次生长的循环层,所述循环层包括由下至上依次生长的掺硅元素的N型GaN层,掺硅元素、铝元素和铟元素的第一N型铝铟氮化镓AlInGaN层,掺硅元素、铝元素和铟元素的第二N型AlInGaN层,且所述掺硅元素的N型GaN层、所述第一N型AlInGaN层和所述第二N型AlInGaN层的掺杂浓度不同;所述循环层中所述第一N型AlInGaN层和所述第二N型AlInGaN层中的铝元素的组分呈线性增加,所述第一N型AlInGaN层和第二N型AlInGaN层中的铟元素的组分呈线性增加。
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