[发明专利]用于操纵粒子的设备和方法有效

专利信息
申请号: 201610080815.4 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN105854961B 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: J·T·阿兹佩罗兹 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅;李峥宇
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本公开涉及用于操纵粒子的设备和方法。具体地,一种粒子操纵设备,包括:衬底和微通道,所述微通道被包括在所述衬底中并且被配置来接收在其中包括粒子的流体。偏置结构被形成在所述衬底中、与所述微通道相邻但在微通道之外。偏置结构被配置来从所述微通道以外在一个频率处分配辐射以便偏置在所述微通道内的所述粒子的运动。
搜索关键词: 用于 操纵 粒子 设备 方法
【主权项】:
1.一种粒子操纵设备,包括:衬底;多个微通道,所述多个微通道被包括在所述衬底中并且被配置来接收在其中包括粒子的多个流体,所述多个流体中的一个流体包括样本,以及所述多个流体中的另一流体用于清洗包括所述样本的所述流体;和至少一个偏置结构,所述至少一个偏置结构包括在所述衬底上形成、与所述微通道相邻但在所述微通道之外的天线,所述至少一个偏置结构被配置来从所述微通道以外以一个频率生成辐射以偏置在所述微通道内的所述粒子的运动,其中,所述微通道包括用于检测粒子的至少一个腔室,所述至少一个腔室包括混合腔室,所述混合腔室用于将所述多个微通道中的多个流体进行混合;并且所述设备进一步包括图像传感器,所述图像传感器被配置来检测所述至少一个腔室中的所述粒子的特性。
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